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Sistema de medición AM-AM y AM-PM para transistores en RF y microondas

Sistema de medición AM-AM y AM-PM para transistores en RF y microondas

Desarrollo de un método simple y preciso para caracterizar transistores y amplificadores de potencia en altas frecuencias

Editorial Academica Espanola ( 15.06.2011 )

€ 49,00

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La linealidad en amplitud y fase se ha convertido en un tema muy importante debido al incremento en los requerimientos de eficiencia espectral en los nuevos esquemas de comunicación y en sistemas que incluyen amplificadores no lineales. Para aplicaciones tales como radares coherentes, la estabilidad en fase es una característica muy importante. Por otra parte cuando un transmisor, el cual es un amplificador de potencia, es operado cerca de su máxima potencia disponible, se presenta distorsión en amplitud y en fase, las cuales dificultan el enlace. Sin embargo, este modo no lineal de operación en los transmisores es atractivo para sistemas satelitales, pues en estos sistemas la potencia disponible es un recurso muy preciado. Para caracterizar la linealidad en función de la potencia de estos amplificadores se han definido parámetros tales como la compresión de amplitud (AM-AM), o la desviación de fase (AM-PM). En este texto se analiza una alternativa para medir distorsión en amplitud y fase a partir de la teoría de interferencia de señales.

Detalles de libro:

ISBN-13:

978-3-8443-3954-3

ISBN-10:

384433954X

EAN:

9783844339543

Idioma del libro:

Español

Por (autor):

J. Apolinar Reynoso
Francisco Hirata
Rigoberto Jauregui Duran

Número de páginas:

92

Publicado en:

15.06.2011

Categoría:

Electrónica, electrotécnica, la tecnología de las comunicaciones